在心血管護理領域取得突破性進展的同時，Hiden Analytical Ltd自豪地宣布了一項用于治療心臟病的關鍵設備的表面測量技術。Hiden Analytical利用最靈敏的表面分析技術——二次離子質譜法（SIMS），在支架技術的安全性、有效性和創新性方面制定了新標準。

        外科支架，通常是由不銹鋼激光切割而成的線框支架，在保持狹窄的動脈暢通、確保血液不受阻礙地流過身體的重要通道方面發揮著至關重要的作用。通過導管插入這些支架，然后用小球囊擴張，對全世界無數患者來說是一種挽救生命的手術。然而，這些支架的性能和壽命在很大程度上取決于它們的表面狀況。

        認識到支架表面的關鍵性質，Hiden Analytical利用SIMS來檢查材料上自然形成的納米厚的保護性二氧化鉻層。這項使用銫離子轟擊進行的細致分析揭示了某些消毒處理會使支架表面富含鐵，易受腐蝕，這種情況可能導致支架失效、身體排斥反應和組織損傷。

        SIMS提供的無與倫比的檢測極限（LOD）——能夠識別ppm甚至ppb水平的物質——以及原子層深度分辨率，為醫療植入物的表征樹立了新的基準。這種靈敏度與提高分析物體積的技術相結合，可以優化分析，平衡橫向和深度分辨率，專注于支架性能的最關鍵方面。

詳見如下介紹：

HAPR0238_Revolutionising Cardiovascular Health.pdf